庖丁解?？垂β势骷p脈沖測(cè)試平臺(tái)

雙脈沖測(cè)試是表征功率半導(dǎo)體器件動(dòng)態(tài)特性的重要手段，適用于各類(lèi)功率器件，包括MOSFET、IGBT、Diode、SiC MOSFET、GaN HEMTs。同時(shí)，這項(xiàng)測(cè)試發(fā)生在器件研發(fā)、器件生產(chǎn)、系統(tǒng)應(yīng)用等各個(gè)環(huán)節(jié)，測(cè)試結(jié)果有力地保證了器件的特性和質(zhì)量、功率變換器的指標(biāo)和安全，可以說(shuō)是伴隨了功率器件生命的關(guān)鍵時(shí)刻。

隨著先進(jìn)功率器件的問(wèn)世以及功率變換器設(shè)計(jì)愈發(fā)精細(xì)，器件研發(fā)工程師和電源工程師都越來(lái)越關(guān)注雙脈沖測(cè)試。

工欲善其事，必先利其器，擁有一套雙脈沖測(cè)試平臺(tái)是獲得正確評(píng)估結(jié)果的第一步。本文將破解雙脈沖平臺(tái)搭建的難題，快來(lái)看看吧。

下圖是雙脈沖測(cè)試平臺(tái)架構(gòu)，并不復(fù)雜，主要包括：測(cè)試板、高壓電源、輔助電源、信號(hào)發(fā)生器、負(fù)載電感、示波器、電壓探頭、電流探頭。

測(cè)試板

測(cè)試板是完成雙脈沖測(cè)試的核心，一般為半橋電路，有時(shí)也會(huì)采用根據(jù)實(shí)際系統(tǒng)應(yīng)用的拓?fù)洹Ｆ渖现饕考妇€電容、驅(qū)動(dòng)電路，母線電容為測(cè)試過(guò)程提供穩(wěn)定的母線電壓和所需的電流，驅(qū)動(dòng)電路控制器件完成開(kāi)關(guān)動(dòng)作實(shí)現(xiàn)雙脈沖過(guò)程。

測(cè)試板的優(yōu)劣直接影響到評(píng)估結(jié)果的正確性。測(cè)試板需要首先需要確保在測(cè)量無(wú)誤的情況下不出現(xiàn)異常波形，比如電壓尖峰超過(guò)器件耐壓值、無(wú)法解釋的震蕩、橋臂短路等，否側(cè)這樣的測(cè)試結(jié)果是沒(méi)有價(jià)值的。對(duì)于服務(wù)于系統(tǒng)應(yīng)用器件選型的測(cè)試需求，測(cè)試板可以直接選用變換器實(shí)際的電路板，這樣的測(cè)試結(jié)果可以直接用于電路設(shè)計(jì)。隨著器件的開(kāi)關(guān)速度越來(lái)越快，對(duì)測(cè)試板的性能也提出了更高的要求，如回路電感、驅(qū)動(dòng)電路等。